EPSON-NSCN晶體電路評估聯合測試中心-服務項目
CE測試檢測項目
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晶振負性阻抗測試
晶體在設計和使用的過程中，用戶會發現其起振時間過長以及工作過程中意外停振等不穩定的情況，導致系統工作異常等嚴重后果。 EPSON-NSCN晶體電路評估聯合測試中心將在晶體回路中串入可調電阻，從小到大改變電阻阻值，選擇使回路停振之前的阻值作為-R的評估值。用相同方法測試更改負載電容后回路的負性阻抗值，并保存數據對比。可以使改變設計后的回路負阻抗顯著提高。 -
頻率精度測試
負載電容(CL)是用來決定在振蕩電路中晶振頻率的參數，從加在振蕩電路中晶振兩端的電容可知負載容量。因電路的負載電容的不同，晶振的頻率會相應的產生變動。為了獲得目標的頻率精度，必須使晶振于負載電容相配。 。通過晶體電路評估測試（CE測試），我們將為你找到最佳外接負載電容值，提供高精度的線路匹配方案。 -
驅動功率測試
每顆晶體在工作時都不能超過它的最大功率值，如果超出將導致頻率偏差變大，晶體溫度升高嚴重的可以導致晶體永久損壞，從而導致系統崩潰。 EPSON-NSCN晶體電路評估聯合測試中心通過專業的驅動功率測試方法和專業設備,獲得針對特試晶振回路的驅動功率準確上限數據。
